白光干涉測厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機(jī)計數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時間的一半而得到試樣的厚度。
白光干涉測厚儀的功能：
●采用了磁性測厚方法，可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；
●可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；
●可采用基本校準(zhǔn)修正法對測頭系統(tǒng)誤差進(jìn)行更新修正，保證儀器在測量過程中的準(zhǔn)確性；
●負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器零位點(diǎn)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，提高測試精度；
●操作過程有蜂鳴聲提示；
●兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式；
●電池電壓指示：低電壓提示；
●微功耗設(shè)計，在待機(jī)裝態(tài)不到10微安的電流。
影響白光干涉測厚儀的測量精度原因：
(1)覆蓋層厚度大于25μm時，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
(2)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；
(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,，只有大于這個厚度，測量才不會受基體金屬厚度的影響；
(4)對試樣測定存在邊緣效應(yīng),，即對靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的；
(5)試樣的曲率對測量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度，粗糙度增大，影響增大。
